Faglig innhold

Krystallografi: krystallografiske punkter, retninger og plan (Miller indekser). Glidesystemer.

Destruktive karakteriseringsteknikker: røntgendiffraksjon (XRD), lysmikroskopi, elektronmikroskopi (SEM, EDS), avanserte mikroskop-teknikker (AFM, FIB, etc.)

Ikke-destruktiv testing (NDT): røntgenfluorescens (XRF), visuell, ultralyd, radiografi, penetrant, magnetpulver og virvelstrøm.

Bruddmekanikk, utmatting og testmetoder.

Skadeanalyser.

Læringsutbytte

Kandidaten:

• har grunnleggende kunnskap om krystallografi og kan tegne, indisere og beregne atomtetthet i krystallografiske retninger og plan i en enhetscelle, og forklare glidning av dislokasjoner.
• har forståelse for teoretiske prinsipper for røntgendiffraksjon (XRD), lysmikroskopi og elektronmikroskopi (SEM, EDS) og kan gjøre karakterisering og analyse av resultater for utvalgte materialer.
• har kunnskap om ikke-destruktiv testing (NDT) og kan utføre og tolke resultater for utvalgte metoder.
• har innsikt i mekanismer for brudd og utmatting, har forståelse for ulike testmetoder, og kan analysere data fra utvalgte tester.
• har oversikt over metoder for materialtesting og karakterisering, kan identifisere anvendelser, sammenligne muligheter og begrensninger, og gjøre begrunnede valg av metoder.
• kan anvende kunnskap om bruddmekanikk, materialtesting og karakterisering til å planlegge og gjennomføre en skadeanalyse.
• kan planlegge, gjennomføre og dokumentere laboratoriearbeid innen materialtesting og karakterisering i skriftlige rapporter.

Læringsformer og aktiviteter

Forelesninger, øvinger og laboratoriearbeid.

Forventet tidsforbruk:

• Forelesninger: 60 timer
• Egenarbeid: 60 timer
• Øvinger: 20 timer
• Laboratorieabeid: 60 timer
• Totalt: 200 timer

Obligatoriske aktiviteter

• Øvinger
• Laboratoriearbeid

Spesielle vilkår

Anbefalte forkunnskaper

IMAK1003 Introduksjon til material- og energiteknologi, IMAK1006 Fasetransformasjoner og funksjonelle materialegenskaper, TMT4345 Materialframstilling eller tilsvarende.

Kursmateriell

William D. Callister jr. og David G. Rethwisch, Callister's Materials Science and Engineering, 10th Edition, Global Edition, Wiley, 2019.

Anwar Ul-Hamid, A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy, 1st edition, Springer Cham, 2018.

Andre ressurser blir gjort tilgjengelig ved semesteroppstart.

Studiepoengreduksjon