Faglig innhold

Krystallografi: krystallografiske punkter, retninger og plan (Miller indekser).

Destruktive karakteriseringsteknikker: røntgendiffraksjon (XRD), lysmikroskopi, elektronmikroskopi (SEM, EDS), avanserte mikroskop-teknikker (AFM, FIB, etc.)

Ikke-destruktiv testing (NDT): røntgenfluorescens (XRF), visuell, ultralyd, radiografi, penetrant, magnetpulver og virvelstrøm.

Bruddmekanikk, utmatting, siging og testmetoder.

Skadeanalyser.

Læringsutbytte

Kandidaten:

• har grunnleggende kunnskap om krystallografi og kan tegne, indisere og beregne atomtetthet i krystallografiske retninger og plan i en enhetscelle.
• har forståelse for teoretiske prinsipper for røntgendiffraksjon (XRD), lysmikroskopi, elektronmikroskopi (SEM, EDS) og utvalgte avanserte mikrokoper, og kan gjøre karakterisering og analyse av resultater for utvalgte materialer.
• har kunnskap om ikke-destruktiv testing (NDT) og kan utføre og tolke resultater for utvalgte metoder.
• har innsikt i mekanismer for brudd, utmatting og siging, har forståelse for ulike testmetoder, og kan analysere data fra utvalgte tester.
• har oversikt over metoder for materialtesting og karakterisering, kan identifisere anvendelser, sammenligne muligheter og begrensninger, og gjøre begrunnede valg av metoder.
• kan anvende kunnskap om bruddmekanikk, materialtesting og karakterisering til å planlegge og gjennomføre en skadeanalyse.
• kan planlegge, gjennomføre og dokumentere laboratoriearbeid innen materialtesting og karakterisering i skriftlige rapporter.

Læringsformer og aktiviteter

Forelesninger, øvinger og laboratoriearbeid.

Forventet tidsforbruk:

• Forelesninger: 60 timer
• Egenarbeid: 80 timer
• Øvinger: 30 timer
• Laboratorieabeid: 30 timer
• Totalt: 200 timer

Obligatoriske aktiviteter

• Øvinger
• Laboratoriearbeid

Spesielle vilkår

Anbefalte forkunnskaper

IMAK1011 Materialer og kjemi 1, IMAK1012 Materialer og kjemi 2 eller tilsvarende.

Kursmateriell

William D. Callister jr. og David G. Rethwisch, Callister's Materials Science and Engineering, 10th Edition, Global Edition, Wiley, 2019.

Anwar Ul-Hamid, A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy, 1st edition, Springer Cham, 2018.

Andre ressurser blir gjort tilgjengelig ved semesteroppstart.

Studiepoengreduksjon