course-details-portlet

MT8219 - Anvendt Elektronmikroskopi

Om emnet

Vurderingsordning

Vurderingsordning: Muntlig
Karakter: Bestått/ Ikke bestått

Vurdering Vekting Varighet Delkarakter Hjelpemidler
Muntlig 100/100 D

Faglig innhold

Emnet undervises annet hvert år, neste gang høsten 2022. Emnet er tredelt og det undervises ca. 1/3 innen hvert emne: - Transmisjonselektronmikroskopi (TEM) - Scanning elektronmikroskopi (SEM) - Prøveprepareringsteknikker for TEM og SEM samt skadeanalyse

Læringsutbytte

Emnet tar sikte på å gi en teoretisk fordypning på en del områder innen anvendelse av SEM og TEM. Etter fullført kurs skal studenten kunne - Gjøre rede for teorien for røntgen mikroanalyse i SEM/TEM - Gjennomføre kvalitativ og kvantitativ røntgen mikroanalyse i TEM - Gjøre rede for grunnleggende teori for elektronspredning fra en krystall - Gjøre rede for de forskjellige kontrastmekanismer som finnes ved TEM avbildning- Gjøre rede for teori for avbilding av gitterdefekter i TEM- Gjøre rede for teorien for og foreta gitteravbildning i TEM - Gjøre rede for oppbygningen av spektrometer og elementær teori for elektron energitapsanalyse (EELS) - Utføre enkel avbildning og bestemme folietykkelser vha EELS - Gjennomføre kvalitativ og kvantitativ mikrostrukturkarakterisering vha EBSD i SEM - Gjøre rede for teorien for høgoppløsning (felt emisjon) SEM - Utføre høgoppløsningsavbildning i FESEM - Vurdere og utføre passende prøvepreparering for elektronmikroskopi- Gi en oversikt over de vanligste skademekanismene i metaller- Vurdere passende fremgangsmåte for å bestemme skademekanismer ved brudd

Læringsformer og aktiviteter

Forelesninger. Laboratorieøvinger med praktisk bruk av instrumentene. Forventet tidsbruk: forelesninger 40 timer, laboratoriearbeid 40 timer, selvstudie 120 timer.

Obligatoriske aktiviteter

  • Laboratorieøvinger

Spesielle vilkår

Obligatorisk aktivitet fra tidligere semester kan godkjennes av instituttet.

Kursmateriell

Pensumlitteratur: Goldstein, Newbury, Echlin, Joy, Fiori and Lishin: Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalyses. (Utvalgte deler.) Utvalgte papersBrooks & Choudhury: Metallurgical Failure Analysis Williams, David B., Carter, C. Barry: Transmission Electron Microscopy - A Textbook for Materials Science Springer 2. Ed 2009. (e-bok)

Flere sider om emnet
Fakta om emnet

Versjon: 1
Studiepoeng:  7.5 SP
Studienivå: Doktorgrads nivå

Undervisning

Termin nr.: 1
Undervises:  HØST 2022

Undervisningsspråk: Engelsk, Norsk

Sted: Trondheim

Fagområde(r)
  • Materialteknologi
  • Materialfysikk
Kontaktinformasjon
Emneansvarlig/koordinator: Faglærer(e):

Ansvarlig enhet
Institutt for materialteknologi

Eksamensinfo

Vurderingsordning: Muntlig

Termin Statuskode Vurdering Vekting Hjelpemidler Dato Tid Eksamens- system Rom *
Høst ORD Muntlig 100/100 D
Rom Bygning Antall kandidater
Vår ORD Muntlig 100/100 D
Rom Bygning Antall kandidater
  • * Skriftlig eksamen plasseres på rom 3 dager før eksamensdato. Hvis mer enn ett rom er oppgitt, finner du ditt rom på Studentweb.
Eksamensinfo

For mer info om oppmelding til og gjennomføring av eksamen, se "Innsida - Eksamen"

Mer om eksamen ved NTNU