Faglig innhold

Emnet undervises annet hvert år, neste gang høsten 2026. Emnet er tredelt og det undervises ca. 1/3 innen hvert emne: - Transmisjonselektronmikroskopi (TEM) - Scanning elektronmikroskopi (SEM) - Prøveprepareringsteknikker for TEM og SEM samt skadeanalyse

Læringsutbytte

Emnet tar sikte på å gi en teoretisk fordypning på en del områder innen anvendelse av SEM og TEM. Etter fullført kurs skal studenten kunne - Gjøre rede for teorien for røntgen mikroanalyse i SEM/TEM - Gjennomføre kvalitativ og kvantitativ røntgen mikroanalyse i TEM - Gjøre rede for grunnleggende teori for elektronspredning fra en krystall - Gjøre rede for de forskjellige kontrastmekanismer som finnes ved TEM avbildning- Gjøre rede for teori for avbilding av gitterdefekter i TEM- Gjøre rede for teorien for og foreta gitteravbildning i TEM - Gjøre rede for oppbygningen av spektrometer og elementær teori for elektron energitapsanalyse (EELS) - Utføre enkel avbildning og bestemme folietykkelser vha EELS - Gjennomføre kvalitativ og kvantitativ mikrostrukturkarakterisering vha EBSD i SEM - Gjøre rede for teorien for høgoppløsning (felt emisjon) SEM - Utføre høgoppløsningsavbildning i FESEM - Vurdere og utføre passende prøvepreparering for elektronmikroskopi- Gi en oversikt over de vanligste skademekanismene i metaller- Vurdere passende fremgangsmåte for å bestemme skademekanismer ved brudd

Læringsformer og aktiviteter

Forelesninger. Laboratorieøvinger med praktisk bruk av instrumentene. Forventet tidsbruk: forelesninger 40 timer, laboratoriearbeid 40 timer, selvstudie 120 timer. Dersom det er færre enn tre kandidater vil emnet undervises gjennom kollokviearbeid.

Obligatoriske aktiviteter

• Laboratorieøvinger

Anbefalte forkunnskaper

Emnet er beregnet på studenter i materialteknologi som har mye selvstendig mikroskoparbeid i sitt PhD-studium. Emnet krever derfor eksamen i emne TMT4300 Lys- og elektronmikroskopi eller tilsvarende kunnskaper i scanning og transmisjon elektronmikroskopi

Kursmateriell

Pensumlitteratur: Goldstein, Newbury, Echlin, Joy, Fiori and Lishin: Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalyses. (Utvalgte deler.) Utvalgte papersBrooks & Choudhury: Metallurgical Failure Analysis Williams, David B., Carter, C. Barry: Transmission Electron Microscopy - A Textbook for Materials Science Springer 2. Ed 2009. (e-bok)