course-details-portlet

FY8100

Karakterisering av faste overflater

Studiepoeng 7,5
Nivå Doktorgrads nivå
Undervisningsstart Høst 2010
Varighet 1 semester
Undervisningsspråk Engelsk og norsk
Vurderingsordning Muntlig eksamen

Om

Om emnet

Faglig innhold

Emnet undervises annethvert år, neste gang høsten 2010. Metoder for karakterisering av overflater. Metodene omfatter foton-, elektron- og ioneinduserte spektroskopiske metoder med spesiell vekt på XPS (røntgen-fotoemisjonsspektroskopi), UPS (ultrafiolett fotoemisjonsspektroskopi), AUGER, LEED (lavenergi elektrondiffraksjon), IRAS (infrarød refleksjons-absorpsjonsspektroskopi), RAS (refleksjons-anisotropispektroskopi), annen-harmonisk generering ved overflater (SHG) og SPM (scanning probe mikroskopi). Emnet gir også en kort innføring i metoder for å generere og opprettholde ultrahøyvakuum og RGA (restgass-analyse).

Læringsutbytte

Studentene skal lære grunnleggende prinsipper for og anvendelser av eksperimentelle metoder for karakterisering av overflater.

Læringsformer og aktiviteter

Forelesninger, kollokvier eller ledet selvstudium, avhengig av antall studenter. Laboratoriedemonstrasjoner.

Kursmateriell

Kompendium, utdelte notater.

Studiepoengreduksjon

Emnekode Reduksjon Fra
DIF4903 7,5 sp
Dette emne har faglig overlapp med emnet i tabellen over. Om du tar emner som overlapper får du studiepoengreduksjon i det emnet du har dårligst karakter i. Dersom karakteren er lik i de to emnene gis det reduksjon i det emnet som er avlagt sist.

Fagområder

  • Faste stoffers fysikk
  • Fysikk
  • Kondenserte mediers fysikk
  • Material- og faststoffysikk
  • Overflatefysikk

Kontaktinformasjon

Emneansvarlig/koordinator

Faglærere

Ansvarlig enhet

Institutt for fysikk

Eksamen

Eksamen

Vurderingsordning: Muntlig eksamen
Karakter: Bokstavkarakterer

Ny eksamen - Høst 2010

Muntlig
Vekting 100/100

Ordinær eksamen - Høst 2010

Muntlig
Vekting 100/100

Ordinær eksamen - Vår 2011

Muntlig
Vekting 100/100

Alt om eksamen ved NTNU