Emne - VLSI testmetodikk - FE8121
FE8121
Dette emne har faglig overlapp med emnet i tabellen over. Om du tar emner som overlapper får du studiepoengreduksjon i det emnet du har dårligst karakter i. Dersom karakteren er lik i de to emnene gis det reduksjon i det emnet som er avlagt sist.
VLSI testmetodikk
Studiepoeng
7,5
Nivå
Doktorgrads nivå
Undervisningsstart
Vår 2011
Varighet
1 semester
Undervisningsspråk
Engelsk
Vurderingsordning
Oppgave og muntlig eksamen
Om
Om emnet
Faglig innhold
Emnet undervises annet hvert år, neste gang vår 2011.
Analyse av fysiske defekter, feilmodellering, testproblemers kompleksitet, algoritmer for automatisk testmønster-generering, nye metoder for innebygget selvtest, inkludert LBIST og ABIST,metrikker for testkvalitet, test av innvevde systemer.
Læringsutbytte
Forstå og benytte moderne metoder og teknikker for test av digitale systemer.
Læringsformer og aktiviteter
Forelesninger, kollokvier, lesing av artikler, oppgaveskriving, prosjektoppgave.
Obligatoriske aktiviteter
- Semesteroppgave
Forkunnskapskrav
Kunnskaper innen test tilsvarende emne TFE Realisering og test av digitale systemer. Det omfatter grunnleggende teori om test av digitale kretser, spesielt "stuck-at" feilmodellen,metoder for testmønster-generering og feilsimulering.
Kursmateriell
Etter avtale.
Studiepoengreduksjon
| Emnekode | Reduksjon | Fra |
|---|---|---|
| TFE4141 | 3,7 sp |
Fagområder
- Elektronikk
- Teknologiske fag
Kontaktinformasjon
Ansvarlig enhet
Eksamen
Eksamen
Vurderingsordning: Oppgave og muntlig eksamen
Karakter: Bokstavkarakterer
Ordinær eksamen - Høst 2010
Oppgave
Vekting
1/3
Muntlig eksamen
Vekting
2/3
Ordinær eksamen - Vår 2011
Oppgave
Vekting
1/3
Muntlig eksamen
Vekting
2/3