TMT4300 - Lys- og elektronmikroskopi

Om emnet

Vurderingsordning

Vurderingsordning: Skriftlig eksamen
Karakter: Bokstavkarakterer

Vurderingsform Vekting Varighet Hjelpemidler Delkarakter
Skriftlig eksamen 100/100 4 timer D

Faglig innhold

Emnet gir studentene opplæring i lysmikroskopi (LM), scanning elektronmikroskopi (SEM) og transmisjon elektronmikroskopi (TEM) av materialer, i hovedsak metalliske. Det gis en grunnleggende innføring i teoriene som ligger til grunn for mikroskopene, for hvordan mikroskopene er bygd opp og for hvordan de virker og anvendes. Gjennom praktiske laboratorieøvinger får studentene trening i å operere mikroskopene.

Læringsutbytte

Etter avsluttet kurs skal studenten kunne:
- Innen LM, gjøre rede for teoriene for billeddannelse, kontrast, oppløsning, polarisert lys, interferensmikroskopi, interferenssjikt og fluorescens.
- Innen LM, forklare virkemåten til og beherske bruken av det mest vanlige mikroskoptilbehøret som blendere, filtre, prismer, stoppere og objektiver.
- Innen LM, utføre beregninger av oppløsningsevne og av nivåforskjeller i prøveoverflaten og beherske ulike metoder for å måle korn- og partikkelstørrelse direkte i mikroskopet.
- Innen SEM, gjøre rede for teorier for elektronoptikk, vekselvirkning mellom elektronstråle og prøve (sekundær- og tilbakespredte elektroner, røntgen), mikrosanalyse (EDS og WDS), billeddannelse (detektorer, kontrastmekanismer), diffraksjon (EBSD), fraktografi og ulike typer SEM-mikroskoper.
- Innen SEM, utføre beregninger av oppløsningsevne, dybdeskarphet, atomnummerkontrast og elementnummer (Moseleys lov).
- Innen SEM, operere mikroskopet og kunne utføre alle nødvendige innstillinger for å oppnå optimale forhold under avbildning, diffraksjonsopptak og kjemisk analyse, dvs. valg av detektor og justering av aksellerasjonsspenning, strålestrøm, arbeidsavstand, astigmatisme og objektivblender.
- Innen TEM, gjøre rede for de vanligste avbildningsteknikkene lysfelt, mørkfelt, gitteravbildning og diffraksjon, og ut fra Braggs lov kunne forklare grunnlaget for diffraksjonsbilder og diffraksjonskontrast i lys- og mørkfeltbilder.
- Innen TEM, beherske enkel bruk av mikroskopet som diffraksjon, lys- og mørkfeltavbildning. Av justeringer skal studenten kunne stille prøvehøyde, kondensorblender, objektivastigmatisme og fokus.
- Innen TEM, indisere diffraksjonsbilder fra krystaller med kubisk krystallstruktur, og på grunnlag av diffraksjonsbilder kunne beregne planavstander til faser som befinner seg i det undersøkte materialet.
- Skrive enkle rapporter som omhandler mikroskopi av materialer.

Læringsformer og aktiviteter

Forelesninger. Obligatoriske laboratorieøvinger og regneoppgaver. Undervisningen veksler mellom uker med bare F og uker med bare Ø. I ukene med forelesning foreleses det også i øvingstimene. Dette gjelder for eksempel de første kursukene. Undervisningen gis på norsk eller engelsk etter behov. Hvis undervisningen gis på engelsk kan eksamensoppgavene gis kun på engelsk. Studentens besvarelse kan være på norsk eller engelsk.

Obligatoriske aktiviteter

  • Øvinger

Mer om vurdering

Ved utsatt eksamen (kontinuasjonseksamen) kan skriftlig eksamen bli endret til muntlig eksamen.

Spesielle vilkår

Vurderingsmelding krever godkjent undervisningsmelding samme semester. Obligatorisk aktivitet fra tidligere semester kan godkjennes av instituttet.

Krever opptak til studieprogram:
Industriell kjemi og bioteknologi (MTKJ)
Industriell kjemi- og bioteknologi (MIKJ)
Materialteknologi (MIMT)
Materialteknologi (MTMT)
Materialteknologi (PHMT)
Nanoteknologi (MTNANO)

Forkunnskapskrav

Emnet kan kun tas av studenter med studierett på femårig masterprogram i materialteknologi (MTMT), toårig masterprogram i materialteknologi (MIMT), femårig masterprogram i industriell kjemi og bioteknologi, studieretning materialkjemi og energiteknologi (MTKJ) eller toårig masterprogram i industriell kjemi og bioteknologi, studieretning materialkjemi og energiteknologi (MIKJ). Emnet kan imidlertid også tas av Double Degree studenter som skal søke seg inn på femårig masterprogram i materialteknologi eller industriell kjemi og bioteknologi.

Kursmateriell

J. K. Solberg og V. Hansen: Innføring i transmisjon elektronmikroskopi, kompendium. J.K. Solberg: Lysmikroskopi, kompendium. J. Hjelen: Scanning elektronmikroskopi, kompendium.

Studiepoengreduksjon

Emnekode Reduksjon Fra Til
SIK5077 7.5

Eksamensinfo

Vurderingsordning: Skriftlig eksamen

Termin Statuskode Vurderingsform Vekting Hjelpemidler Dato Tid Rom *
Vår ORD Skriftlig eksamen 100/100 D
  • * Skriftlig eksamen plasseres på rom 3 dager før eksamensdato.
Hvis mer enn ett rom er oppgitt, finner du ditt rom på Studentweb.