FE8121 - VLSI testmetodikk

Om emnet

Vurderingsordning

Vurderingsordning: Mappevurdering
Karakter: Bestått/Ikke bestått

Vurderingsform Vekting Varighet Hjelpemidler Delkarakter
Arbeider 40/100 ALLE
Muntlig eksamen 60/100 KALKULATOR

Faglig innhold

Analyse av fysiske defekter, feilmodellering, testproblemers kompleksitet, algoritmer for automatisk testmønster-generering, nye metoder for innebygget selvtest, inkludert LBIST og ABIST, metrikker for testkvalitet, test av innvevde systemer.

Læringsutbytte

A. Kunnskap:
1) Forstå og benytte moderne metoder og teknikker for test av digitale systemer.

B. Ferdigheter:
1) Utvikle en testbarhets-struktur for en modul, bruke denne for testutførelse, og måle feildekningsgraden.
2) Benytte tilgjengelige verktøy for testgenerering og feilsimulering.
3) Ved å fullføre et design-for-testability prosjekt, ha bygget opp erfaring i testutviklingsprosjekter.

Læringsformer og aktiviteter

Forelesninger, kollokvier, lesing av artikler, semesteroppgave.
Emnet undervises annethvert år, neste gang vår 2018.

Mer om vurdering

Hvis eksamen ikke bestås er det tilstrekkelig å ta eksamen på nytt. Resultat fra obligatorisk semesteroppgave beholdes.

Forkunnskapskrav

Grunnleggende teori om test av digitale kretser, metoder for testmønster-generering og feilsimulering. Studenten må kjenne til basismetoder for innebygd selvtest.

Kursmateriell

Etter avtale.

Studiepoengreduksjon

Emnekode Reduksjon Fra Til
TFE4141 3.7 01.09.2014 31.08.2016

Eksamensinfo

Vurderingsordning: Mappevurdering

Termin Statuskode Vurderingsform Vekting Hjelpemidler Dato Tid Rom *
Høst ORD Arbeider 40/100 ALLE
Høst ORD Muntlig eksamen 60/100 KALKULATOR
Vår ORD Arbeider 40/100 ALLE
Vår ORD Muntlig eksamen 60/100 KALKULATOR
  • * Skriftlig eksamen plasseres på rom 3 dager før eksamensdato.
Hvis mer enn ett rom er oppgitt, finner du ditt rom på Studentweb.