Skip to end of metadata
Go to start of metadata

You are viewing an old version of this page. View the current version.

Compare with Current View Page History

« Previous Version 31 Next »

Type of equipmentName of equipmentLocationContact personLink to more information
Element AnalysisGD-MSE-208Chiara Modanese 
Texture AnalysisX-ray diffractometerA-347Torild Krogstad 
LysmikroskopWild HeerbruggA-443Trygve L. Schanche 
LysmikroskopLeica MEF4ME-514Trygve L. Schanche 
LysmikroskopReichert-Jung UnivarE-514Trygve L. Schanche 
MakroskopLeitz M400E-508Trygve L. Schanche 
LysmikroskopLeitz MM6E-508Trygve L. Schanche 
LysmikroskopZeiss Axiovert 25E-508Trygve L. SchancheZeiss Axiovert 25
LysmikroskopLeitz metalloplanE-508Trygve L. Schanche 
LysmikroskopLeitz 1AE-508Trygve L. Schanche 
LysmikroskopReichert MEF1E-508Trygve L. Schanche 
LysmikroskopLeitz Metallux 3E-514ATrygve L. SchancheLeitz Metallux 3
Videokamera (2 stk)JVC TK-S310 EGE-514ATrygve L. Schanche 
Videokamera til mikroskopLeica R3 elecrt.E-514A  
LysmikroskopLeitz AxioskopE-514ATrygve L. SchancheLeitz Axioskop
FE-SEM with Bruker EDS/NORDIF EBSD systemHitachi SU6600F-362Yingda Yu
FE-SEM with Bruker EDS/NORDIF EBSD systemZeiss Ultra 55F-362Yingda Yu
SEM with Nordif EBSD systemJEOL JSM 840AF-362Yingda Yu
TEM with Gatan GIF systemJEOL TEM 2010F-368Yingda Yu
SEM with Gatan CL systemJEOL JSM 840F-369Yingda Yu 
SEM with JEOL EDS systemJEOL JSM 6010LAF-369Yingda Yu
FE-SEM wirh EDAX EDS systemZeiss Supra 55VPF-369Yingda Yu
FE-EPMA wirh JEOL WDS systemJEOL JXA 8500F-373Morten Raanes
Scanning probe microscope (AFM/STM)Agilent 5500KII-003AMagnus Følstad

 

 

UV-vis/NIR spektrofotometer + potensiostatPhotoelectrochemical stationKII-014Magnus Følstad

 

 

 Perkin Elmer Diffential scanning calorimeterKII-103Sverre Magnus Selback 
ovnHigh temperature oxygen flux furnaceKII-103Belma Talic 
Thermal analysisNETZSCH dilatometer 402EKII-103Ove Darell 
Thermal analysisNETZSCH dilatometer 402CKII-103Eli Beate Larsen 
Thermal analysisNETZSCH STA449 jupiterKII-103Eli Beate Larsen 
Thermal analysisNETZSCH STA449 jupiterKII-103Eli Beate Larsen 
ovnElectrical conductivity furnaceKII-103Belma Talic 
 NitrogentankKII-107Elin Albertsen 
 PSA Malvern 2000KII-107Jannicke Kvello 
Surface and particle analysisTRISTAR 3000 surface area and porosity analyzer KII-107Elin AlbertsenBET
 LECO, oksygen og nitrogenanalysatorKII-107Anne Støre 
 Accupyc 1330 PycnometerKII-107Julian Tolchard 
 D8 advance BrukerKII-113Julian Tolchard 
 Da Vinci 1 BrukerKII-113Julian Tolchard 
 Da Vinci 2 BrukerKII-113Julian Tolchard 
 A-unit X-ray diffractometerKII-113Julian Tolchard 
 D8 focus SiemensKII-113Julian Tolchard 
 Optisk dilatometer-Expert systemKII-119Anne Støre 
 LFA Microflash, termisk diffusivitetKII-119Anne Støre 
Zetapotensial- og partikkelstørrelse-målerBeckman Coulter DelsaNano CKII-223Magnus Følstad 
GD-OESGD-profilerKII-307Maria Stepanova 
MikroskopOptical microscope Nikon SM2800KII-323  
MikroskopOptical microscope Leica DM IRMKII-323  
Scanning probe microscope (AFM/STM)Agilent 5500KII-003AMagnus Følstad 
LysmikroskopZeiss   
LysmikroskopWild Heerbrugg  

 

 

IR instrumentBruker IFS66VKII-014  
UV-vis/NIR spektrofotometer + potensiostatPhotoelectrochemical station Magnus Følstad 
MassespektrometerPfeiffer Vacum Prisma Plus HiCube Morten Tjelta 
ViskositetsmålingHaake Mars Modular Advanced Rheometer System   
ViskositetsmålingHaake Viskotester 550 Thermo Scientific   
LysmikroskopLeica DMIL Trygve L Schanche 
LysmikroskopOlympus BH-2KII-032AStein Rørvik 
LysmikroskopReichert MeF3A med Sony kamera Stein Rørvik 
LysmikroskopOlympus BX60 Stein Rørvik 
Peizoelektriske målingerAix PES Piezoelectric evaluation   
LysmikroskopLeica EZ4   
Scanning electron microscopeHitachi S-3400NKII-036 

Lv-sem Sem Sælandsvei (Hitachi S-3400N)

 


  • No labels