course-details-portlet

TFE4575

Fysiske metoder for nanostrukturering og karakterisering, fordypningsemne

Nytt fra studieåret 2010/2011

Studiepoeng 7,5
Nivå Høyere grads nivå
Undervisningsstart Høst 2010
Varighet 1 semester
Undervisningsspråk Engelsk og norsk
Vurderingsordning Arbeider

Om

Om emnet

Faglig innhold

Kurset inneholder modulkurs arrangert av NTNU NanoLab innen et utvalg av følgende teknikker: HMS kurs NTNU NanoLab, Optisk mikroskopi, SEM grunnkurs, AFM, Elektronstrålelitografi, Tynnfilmdeponering, Nanoimprinting grunnkurs, Tørrets, FIB grunnkurs, Funksjonalisering av overflater, Postprosessering - scribing/saging og bonding.

Læringsutbytte

Etter å ha fulgt undervisingen i emnet skal studentene selv kunne benytte utvalgte state-of-the-art eksperimentelle teknikker for nanostrukturering og karakterisering med hovedvekt på fysiske metoder. De utvalgte teknikkene skal være relevante for fordypningsprosjekt/masteroppgave innen Nanoteknologi/Nanoelektronikk.

Læringsformer og aktiviteter

Undervisningen vil foregå som modulkurs tilbudt av NTNU NanoLab, samt seminarer. Modulkursene vil bestå av tre deler: Teoretisk gjennomgang av funksjon og prinsipper for instrumentering, praktisk demonstrasjon og praktisk/teoretisk prøve. Studentene vil få en teoretisk gjennomgang av et større utvalg av de eksperimentelle teknikkene gitt under faglig innhold. For et begrenset utvalg av eksperimentelle teknikker mest relevante for fordypningsprosjekt vil det i tillegg tilbys en mer omfattende praktisk opplæring og praktisk/teoretisk prøve. Bestått praktisk/teoretisk prøve er nødvendig for å kunne benytte metoden selv i eget fordypningsprosjekt.

Kursmateriell

Oppgis ved semesterstart.

Fagområder

  • Teknologiske fag

Kontaktinformasjon

Emneansvarlig/koordinator

  • Bjørn-Ove Fimland

Faglærere

Ansvarlig enhet

Institutt for elektroniske systemer

Eksamen

Eksamen

Vurderingsordning: Arbeider
Karakter: Bestått/Ikke bestått

Ordinær eksamen - Høst 2010

Arbeider
Vekting 100/100

Alt om eksamen ved NTNU