Faglig innhold

Emnet undervises annet hvert år, neste gang våren 2012.
Mikroanalyse er en meget sentral del av kurset. Andre aktuelle områder er ny SEM-teknologi, optimalisering av kjøreparametre, SEM-relaterte prøveprepareringsteknikker, fraktografi, elektron-mikrodiffraksjon, elektron-spredningsteori, avbildning av gitterfeil i TEM og EELS.

Læringsutbytte

Emnet tar sikte på å gi en en teoretisk fordypning på en del områder innen anvendelse av SEM, mikrosonde og TEM.

Læringsformer og aktiviteter

Forelesninger. Laboratorieøvinger med praktisk bruk av instrumentene.

Obligatoriske aktiviteter

• Øvinger

Anbefalte forkunnskaper

Emnet er beregnet på studenter i materialteknologi som har mye
selvstendig mikroskoparbeid i sitt PhD-studium. Emnet krever derfor eksamen i emne TMT4300 Lys- og elektronmikroskopi eller tilsvarende kunnskaper i
scanning og transmisjon elektronmikroskopi

Kursmateriell

Pensumlitteratur:
Goldstein, Newbury, Echlin, Joy, Fiori and Lishin: Scanning Electron Micryscopy and X-ray
Microanalyses. (Utvalgte deler.) Jeol: Practical Techniques for Microprobe Analyses.
Forelesningsnotater i mikrosonde og TEM vil bli utlevert.

Studiepoengreduksjon